现代电子技术

2020, v.43;No.571(20) 31-33

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一种基于JTAG的片内调试系统设计
Design of on-chip debugging system based on JTAG

姚霁;

摘要(Abstract):

为了给芯片设计提供一种高效方便的调试方法,提出一种基于JTAG的片内调试系统。该系统包括调试系统控制模块、断点产生模块和JTAG接口。JTAG接口实现调试指令的发送与接收;断点产生模块是调试系统硬件调试的逻辑单元;调试系统控制模块则实现断点设置、单步运行、内存调试等功能。不同的调试指令可根据不同的硬件结构自动完成其各自的处理流程,而且不同的工作模式之间可以自由切换。该片内调试系统表现出了高性能,便于操作的特点,已经通过了实际的芯片测试。

关键词(KeyWords): 片内调试系统;系统设计;JTAG;调试指令;调试流程;模式切换

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 陕西省教育厅项目:一种通用的片上嵌入式调试系统研究资助(17JK0708)

作者(Author): 姚霁;

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